Sfoglia per Rivista IEE PROCEEDINGS. PART G. CIRCUITS, DEVICES AND SYSTEMS
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Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Latch-up dc triggering and holding characteristics of n-well, twin-tub and epitaxial CMOS technologies | 1-gen-1991 | Pavan, Paolo; G., Spiazzi; E., Zanoni; M., Muschitiello; M., Cecchetti |
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